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薄膜金屬箔厚度測(cè)試儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)！
高精度塑料薄膜厚度測(cè)試儀-思克：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
紙塑薄膜 復(fù)合膜厚度測(cè)試儀：適用于各種封邊的封口強(qiáng)度、熱封質(zhì)量、整袋脹破壓力、泄漏性能的量化測(cè)定
包裝薄膜接觸式厚度測(cè)試儀：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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